IC693MDL940，IC693MDL940

IC693MDL940

在GJB1217“電連接器試驗方法”中規(guī)定有“低電平接觸電阻” 和“接觸電阻”兩種試驗方法。

其中低電平接觸電阻試驗方法基本內容與上述GB5095中的接觸電阻-毫伏法相同。目的是評定接觸件在加上不改變物理的接觸表面或不改變可能存在的不導電氧化薄膜的電壓和電流條件下的接觸電阻特性。

所加開路試驗電壓不超過20mV，試驗電流應限制在100mA。在這一電平下的性能足以表現(xiàn)在低電平電激勵下的接觸界面的性能。而接觸電阻試驗方法目的是測量通過規(guī)定電流的一對插合接觸件兩端或接觸件與測量規(guī)之間的電阻。通常采用這一試驗方法施加的規(guī)定電流要比前一種試驗方法大得多。

如軍標GJB101“小圓形快速分離耐環(huán)境電連接器總規(guī)范”中規(guī)定；

測量時電流為1A，接觸對串聯(lián)后，測量每對接觸對的電壓降，取其平均值換算成接觸電阻值。

magnetek cimr-g3u4022

gpd 503 ac drive 30

hp 54.0a 3ph   xlnt  
magnetek cimr-

p5m4030-1f uspp

cimrp5m40301f
magnetek drive 75hp

drive gpd515c-b096 
magnetek drive ds318
magnetek drive gpd

502 il715
magnetek drive

gpd505v-a036
magnetek drive

gpd515c-b014  

gpd515c gdp515
magnetek drive l718
magnetek ds311 uspp

ds311
magnetek ds325 ac

drive
magnetek ds325 ac

drive 45a 30hp   

xlnt  
magnetek ds325 uspp

ds325
magnetek ds326 uspp

ds326
magnetek ds440 uspp

ds440
magnetek dsd312 uspp

dsd312
magnetek genesys

transfer switch

ztsh40ecs-4-

4ac/ellprtuw
magnetek gpd 502

drive l714
magnetek gpd 503

drive mva011
magnetek gpd drive

71616-4g050.m-10
magnetek gpd drive

il714
magnetek gpd drive

l715
magnetek gpd503-

cimr-g3u2022 uspp

gpd503cimrg3u202
magnetek gpd503-ds309

inverter general

purpose haas spindle

drive [pz8]
magnetek gpd503-ds313

[pz5] inverter tested

with 
magnetek gpd503-ds360

nspp gpd503ds360